新一代高分辨率光学测量系统已批量应用于某型深空探测器结构件产线，通过亚微米级非接触扫描与AI缺陷识别算法，将关键部件尺寸偏差控制在0.3 μm以内，使整器装配一次合格率由97.2%提升至99.97%，为“零缺陷”发射目标提供数据支撑。
系统采用多频共焦白光传感器与激光干涉联动架构，可在30秒内完成直径500 mm环形支架的360°全景测量，表面反射率兼容2%-98%，无需喷涂或贴点，避免传统接触式探头带来的划痕与压痕风险，特别适用于钛合金、碳纤维等航天轻质材料。
内置的航天版算法库对30类典型缺陷进行边缘深度学习，可自动识别0.05 mm裂纹、0.8 μm台阶差及0.1°角度漂移，并与MES实时对接，一旦发现异常即刻触发NG通道，实现100%在线拦截，过去18个月累计拦截潜在失效零件412件，预计避免发射损失超2亿元。
产线验证数据显示，单台光学测量仪替代3台接触式三坐标与5名质检员，节拍缩短46%，年节省恒温能耗12万kWh；配合数字孪生平台，工艺优化迭代周期由14天压缩至72小时，显著加快航天器批量生产节奏，为后续星座组网任务提供可靠质量保障。
随着商业航天发射频次逐年递增，光学测量技术正向“更高精度、更快速度、更强智能”演进，下一步将引入0.1 μm级蓝光干涉与量子点标定技术，持续降低测量不确定度，助力我国航天器在极端环境下仍能保持微米级形稳性，护航每一次探宇之旅安全启程。
